Observer la propagation de la lumière dans les structures guidantes est difficile voire impossible avec des dispositifs optiques standards. La microscopie optique en champ proche permet cette observation en utilisant des sondes fabriquées à partir de fibres optiques étirées. On parle de sondes à ouverture optique. Nous proposons, dans cette thèse, pour la première fois, de réaliser ces études avec des sondes de la microscopie à force atomique, métalliques ou semi-conductrices. On parle alors de sondes sans ouverture optique. Un microscope optique en champ proche à sonde sans ouverture a donc été développé à partir d'un AFM commercial et utilisé pour la caractérisation de guides d'ondes réalisés par échange d'ions. Après avoir montré comment détecter un champ évanescent en utilisant le mode contact intermittent de l'AFM et une détection synchrone, le processus de formation des images est analysé en détail. Il met en évidence un effet interférométrique entre le champ guidé, diffusé par la sonde et la lumière diffusée par les défauts de surface. Un tel microscope peut alors conduire à la détermination des grandeurs caractéristiques d'une structure guidante : cartographie du champ propagé, profils de mode en sortie de composant, mesure de constantes de propagation. Nous présentons le montage expérimental, les résultats sur la caractérisation de guides d'ondes confinés, l'observation du déséquilibres d'une jonction Y et le développement d'une détection interférométrique hétérodyne pour améliorer les performances

L'OBJECTIF DE CE TRAVAIL A ETE D'ETUDIER ET DE DEVELOPPER UNE NOUVELLE TECHNIQUE DE MICROSCOPIE OPTIQUE EN CHAMP PROCHE (SNOM) AYANT LA PARTICULARITE D'UTILISER UNE POINTE METALLIQUE SANS OUVERTURE A LA PLACE DE NANO-OUVERTURES CLASSIQUEMENT UTILISEES. APRES AVOIR DECRIT LES PRINCIPALES CONFIGURATIONS SNOM EXISTANTES, NOUS PRESENTONS LE PRINCIPE PROPOSE ET DECRIVONS LE MONTAGE EXPERIMENTAL REALISE POUR LE CONCRETISER. LE MICROSCOPE DEVELOPPE TRAVAILLE EN REFLEXION, IL EST COUPLE A UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE (AFM), UTILISANT LA MEME POINTE, FONCTIONNANT EN MODE TAPPING. UNE FOIS LE MICROSCOPE EN CHAMP PROCHE REALISE NOUS AVONS ETUDIE LES INTERACTIONS ENTRE LA POINTE ET LA SURFACE DE L'ECHANTILLON ET EN AVONS DEDUIT LES PRINCIPALES CARACTERISTIQUES. DE NOMBREUSES IMAGES DANS LE VISIBLE (LONGUEUR D'ONDE = 0.67 MICRON) D'ECHANTILLONS DETERMINISTES (RESEAUX, LIGNES, MARCHES) ONT REVELE DANS UN PREMIER TEMPS UNE RESOLUTION OPTIQUE MEILLEURE QUE 100 NM A L'AIDE DE POINTES COMMERCIALES EN TUNGSTENE. PAR LA SUITE, L'UTILISATION DE POINTES EN TUNGSTENE QUE NOUS FABRIQUONS PAR ELECTROCHIMIE NOUS A PERMIS D'ATTEINDRE UNE RESOLUTION MEILLEURE QUE 15 NM (LONGUEUR D'ONDE SUR 45). DE PLUS, UNE INDEPENDANCE INDENIABLE ENTRE LES SIGNAUX SNOM ET AFM A ETE MIS EN EVIDENCE. L'UTILISATION DU MICROSCOPE DANS L'INFRAROUGE MOYEN (LONGUEUR D'ONDE = 10.6 MICRONS) A CONFIRME L'INTERET DE CETTE NOUVELLE APPROCHE PUISQUE NOUS AVONS ATTEINT UNE RESOLUTION D'ENVIRON LONGUEUR D'ONDE SUR 600 DANS CE DOMAINE SPECTRALE

Ce travail de thèse traite l'interaction d'un champ lumineux incident avec l'extrémité d'une sonde SNOM sans ouverture. Dans des conditions d'éclairage appropriées, une exaltation localisée du champ electromagnétique a lieu au voisinage immédiat de la pointe éclairée. Ce phénomène, connu sous l'effet de pointe optique, génère une source lumineuse très intense et fortement confinée spatialement à l'extrémité de la sonde. Une idée originale a été proposée pour mettre en évidence expérimentalement en champ proche cet effet de pointe et permettre d'entreprendre une étude paramétrique relativement complète d'un tel phénomène. Une modélisation numérique de ce dernier a été aussi effectuée et confrontée aux résultats expérimentaux obtenus. Cette étude a permis en définitive de dégager les conditions optimales d'excitation de la nanosource optique et de définir un protocole de lithographie optique avec une résolution manométrique

UNE CONFIGURATION ORIGINALE DE MICROSCOPE OPTIQUE EN CHAMP PROCHE A SONDE PERTURBATIVE EN MODE TRANSMISSION A ETE DEVELOPPEE. ELLE ASSOCIE UN MICROSCOPE A FORCE ATOMIQUE COMMERCIAL TRAVAILLANT EN MODE RESONANT ET UN MICROSCOPE OPTIQUE INVERSE ASSURANT L'ECLAIRAGE DE L'ECHANTILLON ET LA COLLECTION D'UNE PARTIE DU SIGNAL DIFFUSE. LA POINTE AFM JOUE UN DOUBLE ROLE: ELLE PERMET NON SEULEMENT LA DETECTION DES FORCES INTER-ATOMIQUES PRESENTES ENTRE L'EXTREMITE DE LA POINTE ET LA SURFACE MAIS ELLE AGIT COMME UNE PARTICULE DIFFUSANTE DE RAYLEIGH POUR PERTURBER LE CHAMP PROCHE OPTIQUE PRESENT A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON. CETTE CONFIGURATION PERMET L'ACQUISITION SIMULTANEE DE L'IMAGE AFM (TOPOGRAPHIE) ET DE L'IMAGE SNOM (OPTIQUE). LES PREMIERS RESULTATS OBTENUS SUR UN RESEAU DE PLOTS D'ALUMINIUM (PAS DE 400 NM) DEPOSE SUR UN SUBSTRAT DE VERRE NOUS ONT AMENE A NOUS INTERROGER SUR LES ARTEFACTS QUE CETTE ARCHITECTURE ENGENDRE DANS LA FORMATION DE L'IMAGE OPTIQUE, EN PARTICULIER, LA PRESENCE DU LEVIER AFM A UNE FAIBLE DISTANCE DE LA SURFACE ET LES VARIATIONS DE DISTANCE SONDE-SURFACE INDUITES PAR LES INSTABILITES DE L'OSCILLATEUR (LE LEVIER AFM). L'APPLICATION CONCERNE L'ETUDE D'ECHANTILLONS MAGNETIQUES (GRENATS SUBSTITUES) PAR DES EFFETS MAGNETO-OPTIQUES EN CHAMP PROCHE (FARADAY ET DICHROIQUE CIRCULAIRE MAGNETIQUE). LES IMAGES OBTENUES MONTRENT D'UNE PART, UN DECOUPLAGE ENTRE L'INFORMATION TOPOGRAPHIQUE ET LA DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION A LA SURFACE DE L'ECHANTILLON ET D'AUTRE PART UNE DISTRIBUTION DE L'AIMANTATION EN SURFACE PLUS COMPLEXE QUE CELLE DE VOLUME.

De récentes études ont montré que les ondes électromagnétiques, proche d'une structure diffusante telle qu'une pointe de microscope à force atomique (AFM), peuvent être diffusées et détectées en champ lointain. Ainsi, la détection d'ondes de surface par microscopie optique en champ proche (SNOM) est une technique prometteuse dans le cadre des mesures thermiques aux petites échelles. Une telle technologie prend alors le nom de microscope TRSTM (Thermal Radiation Scanning Tunnelling Microscopy).Le travail de thèse présenté dans ce manuscrit se scinde en deux étapes. La première a trait à nos travaux expérimentaux basés sur le montage d'un dispositif TRSTM. Nous en décrivons les différentes composantes, ainsi que les difficultés rencontrées liées à son fonctionnement. En outre, divers outils numériques, destinés à détecter et extraire tout signal périodique utile, sont développés. La seconde étape se concentre sur nos travaux numériques. Nous y proposons un modèle de diffusion d'ondes électromagnétiques basé sur la FDTD (Finite-Difference Time-Domain) et la transformation champ proche/champ lointain. Ce modèle a été validé par l'étude de dipôles, puis de sphères dispersives à proximité d'un substrat diélectrique. Alors, un certain nombre de simulations de diffusion d'ondes évanescentes par une pointe, de diverses formes et de divers matériaux, proche d'une interface, est présenté.